Atomik Kuvvet Mikroskobu NEXT motorlu numune konumlandırma ve entegre yüksek çözünürlüklü optik mikroskop konumlandırma, motorlu sürekli zoom ve optik mikroskop
odaklama sağlar. Ancak AFM otomasyonu sadece motorizasyondan daha fazlasıdır. Güçlü Nova PX yazılım algoritmaları, optik ve AFM arasındaki boşluğu gidererek büyük panoramik optik görünümden atom çözünürlüğüne kadar sürekli zoom sağlar.
Tüm adım değiştiriciler optik görüntü ile birleştirildiğinden, NEXT otomatik odaklama, hızlı tek tıklamayla konsol hizalama, panoramik optik görünüm ve 5 × 5 mm aralığında çoklu tarama sağlar.
Ana Özellikler
Çok çeşitli teknikler ve prob ölçüm modları ile NEXT ölçüm kompleksi, bilim ve teknolojideki birçok zorluk için geçerlidir. NEXT'in sunabileceği atomik çözünürlükle tarama, katı yüzeylerin, düşük boyutlu nanoyapıların ve nanomalzemelerin fizikokimyasal araştırmalarında yüksek talep görmektedir.
Yüzey morfolojisi analizi, numune yüzeyinin pürüzlülüğü, dokusu ve anizotropi parametrelerini ve adsorbe edilen partiküllerin dağılımlarını ve bu partiküllerin geometrik özelliklerini sağlar.
Tozları, yumuşak malzemeleri, biyolojik yapıları, biyomolekülleri, biyopolimerleri incelemek ve sıvı içinde ölçümler yapmak için özel hassas tarama teknikleri artık mevcuttur.
NEXT uygulamalarında tuhaf bir yer malzeme bilimi tarafından alınır. Yapışma özellikleri, sürtünme faktörleri, kaplamaların aşınma direnci, esneklik modülleri, sertlik vb.
NEXT'de uygulanan elektriksel özelliklerin ölçümü için çok çeşitli teknikler (yerel direnç, yüzey potansiyeli, kapasitans, fotovoltaik parametreler), çeşitli fonksiyonel yapıların, mikro-, nano- ve moleküler elektronik bileşenlerin ve birçok tipteki sensörlerin analizini sağlar.
NEXT, ferroelektrikleri etki alanı yapısı, histerezis özellikleri ve termal özellikleri açısından incelemek için kapsamlı yetenekler sunar.
Havada
Kontak ve Genlik Modülasyonu AFM, AFM Spektroskopisi, AFM Litografi (kuvvet, akım, voltaj), HybriD Mode ™, Yayılma Direnci Görüntüleme, Karanlık mod SRI, Yanal Kuvvet Mikroskobu, Yanal modülasyon LFM, Dikey ve Yanal Piezoresponse Kuvvet Mikroskobu, PFM Anahtarlama Spektroskopisi , Kuvvet Modülasyon Mikroskobu, Manyetik Kuvvet Mikroskobu, İki Geçişli ve Tek Geçişli Elektrostatik Kuvvet Mikroskobu, İki Geçişli ve Tek Geçişli Tarama Kapasitans Kuvvet Mikroskobu, Kantitatif İzin Verme Haritalaması, İki Geçişli ve Tek Geçişli Kelvin Prob Kuvvet Mikroskobu, Tarama Tüneli Mikroskopi (mikroskopi, spektroskopi, litografi), Nanosklerometri, AFM bazlı nanoindentasyon.
Sıvı içinde
Kontak ve Genlik Modülasyonu AFM, AFM Spektroskopisi, AFM Kuvvet Litografisi, HybriD ™ modu, Yanal Kuvvet Mikroskobu, Yanal modülasyon LFM, Kuvvet Modülasyon Mikroskopisi, Manyetik Kuvvet Mikroskopisi.
|
Ölçüm sistemi |
|
|
Ölçüm kafaları |
AFM ve STM (sabit, otomatik olarak değiştirilebilir); sıvı AFM ve nanosklerometre kafası (çıkarılabilir, manuel yerleştirmeli) |
|
Kullanılabilir SPM modları |
AFM, STM, hava ortamında nanosklerometri Sıvı ortamda AFM |
|
Konsol sapma kayıt sistemi |
otomatik hizalama |
|
Örneklem |
|
|
Boyut |
20 mm çapa kadar, 10 mm yüksekliğe kadar |
|
Numune ağırlığı |
40 g'a kadar |
|
Sıcaklık kontrolü |
RT'den 150 o C'ye kadar |
|
Tarama sistemi |
|
|
Tarama türü |
örnekle |
|
Tarama alanı |
100x100x10 um (geri bildirim sensörleri ile) |
|
Doğrusal olmayanlık, XY |
% 0,1 (geri bildirim sensörleri ile) |
|
çözüm |
|
|
Gürültü XY |
0,3 nm'den az (geri bildirim sensörleri ile) |
|
Gürültü seviyesi Z (10 -1000 Hz bandında RMS) |
|
|
Numune konumlandırma sistemi |
|
|
Yöntem |
otomatik, video izlemeli |
|
Aralık, XY |
5x5 mm |
|
Min. adım |
0.3 um |
|
Video izleme sistemi |
|
|
çözüm |
2 um |
|
odak |
Motorlu |
|
yakınlaştırma |
sürekli |
|
Toplam boyutlar ve ağırlık |
|
|
boyutlandırma |
Uzunluk: 470x210x260 mm |
|
Ağırlık |
25 kg |
İnternet sitemizde çerez kullanılmaktadır. Çerezler hakkında detaylı bilgi için Çerez Politikası’nı inceleyiniz. Devam etmeniz halinde çerez kullanımına izin verdiğinizi kabul edeceğiz.
TR 
EN